我們相信好的產品是信譽的保證!
咨詢熱線:
15220080939致力于成為更好的解決方案供應商!
簡要描述:ZEISS/蔡司Axio Imager Vario正置顯微鏡分析極小的MEMS傳感器或整塊平板。其支柱設計讓您可以檢測超大樣品,同時保持高度穩定性。此外,Axio Imager Vario已獲得潔凈室使用認證。
ZEISS/蔡司Axio Imager Vario正置顯微鏡
用于大型樣品的正置顯微鏡
介紹
ZEISS/蔡司Axio Imager Vario正置顯微鏡分析極小的MEMS傳感器或整塊平板。其支柱設計讓您可以檢測超大樣品,同時保持高度穩定性。此外,Axio Imager Vario已獲得潔凈室使用認證。
· 檢查大型樣品
· 可兼容潔凈室
產品優勢
檢查大型樣品
選擇手動或電動支柱,盡享可檢測最大尺寸為300 mm × 300 mm、最大高度為254 mm樣品的優勢。無論是處理重型樣品還是與蔡司LSM材料共聚焦激光掃描顯微鏡結合使用,堅固的支柱設計均可防振動,提供可靠的穩定性。
獲得潔凈室工作認證
晶圓和光掩模檢測對清潔度的要求非常高。因此,檢查需要在潔凈室內完成。根據DIN EN ISO 14644-1標準,以每立方米內顆粒數量和大小將潔凈室劃分成不同等級。Axio Imager Vario已通過該標準認證,滿足5級潔凈室的要求。ISO 5級潔凈室相當于原FED STD 209E(1992)標準的100級。
始終保持對焦
當檢測低襯度反光表面時,只需為您的Axio Imager Vario配備高效的硬件自動對焦。無論是對于反射光還是透射光,均可保證高精度。傳感器能夠探測到焦點位置變化,并自動補償任何偏差。即使是大型樣品,在移動時也能保持出色對焦。
硬件自動對焦
材料研究和工業生產需要對焦精度可達物鏡景深0.3倍的高精度對焦系統。鎖定范圍高達12000 µm的對焦系統可滿足該要求。該自動對焦適合使用反射光、透射光、明場、暗場、偏光、微分干涉相差及斜照明的應用。
應用
木材。反射光暗場,EC Epiplan-APOCHROMAT 10x/0.30
電路板。反射光明場,EC Epiplan-NEOFLUAR 5x/0.13
晶圓。反射光暗場,EC Epiplan-APOCHROMAT 50x/0.95
單晶硅太陽能電池。反射光,C-DIC,EC Epiplan-APOCHROMAT 50x/0.95
掃碼加微信